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分享光学窗口片检测的基本原理

点击次数:278 发布时间:2019-11-05
   光学窗口片是一种在光路中起到保护电子元件/传感器/半导体元件作用的光学平板。窗口片是光学中的基础光学元件之一,是一种在光路中起到保护电子元件/传感器/半导体元件作用的光学平板。窗口片不会改变光学的放大倍率,在光路中仅影响光程。透光率、面型精度、厚度、平行度、基底材质等机械属性是窗口片重要的参数指标。
  光学窗口片是经过磨、抛光后形成相互平行的两个表面的光学玻璃片。它们用在两种环境间时可作为保护原件,然而它们对通过的可见光几乎没有影响 。常用的镀膜有减反射膜(AR)和防刮伤膜(AS),也可按照客户需求改善更好的效果,可以防水防尘防刮伤,按照客户要求定制。光学窗口片是光学系统的前置保护片,主要可用于CCD/CMOS芯片的封装、光学仪器、测量仪器及数码设备的保护、激光二极管上的盖片等。
  光学窗口片检测的基本原理
  光学窗口片中的各种杂质,在光学特性上必然与光学窗口片本身有差异。当光线入射光学窗口片后,各种杂质会在反射、折射等方面表现出与周围光学窗口片不同的异样。例如,当均匀光垂直入射光学窗口片时,如光学窗口片中没有杂质,出射的方向不会发生改变,所探测到的光也是均匀的;当光学窗口片中含有杂质时,出射的光线就会发生变化,所探测到的图像也要随之改变。由于杂质的存在,在其周围就发生了应力集中及变形,在图像中也容易观察。若遇到光透射型缺陷(如裂纹、气泡等),光线在该缺陷位置会发生折射,光的强度比周围的要大,因而相机靶面上探测到的光也相应增强;若遇到光吸取型(如砂粒等)杂质,则该缺陷位置的光会变弱,相机靶面上探测到的光比周围的光要弱。分析相机采集到的图像信号的强弱变化、图像特征,便能获取相应的缺陷信息。
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